Рентгеноструктурный анализ кристаллических веществ состоит из двух этапов:
1. Определение размеров элементарной ячейки кристалла, числа частиц (атомов, молекул) в элементарной ячейке и симметрии расположения частиц. Эти данные получают путем анализа геометрии расположения дифракционных максимумов.
2. Расчет электронной плотности внутри элементарной ячейки и определение координат атомов, которые отождествляются с положением максимумов электронной плотности. Эти данные получают посредством анализа интенсивности дифракционных максимумов.